发明名称 | X射线分析装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种当对样品照射了X射线时通过X射线检测器检测从该样品发出的X射线的X射线分析装置。该X射线分析装置具备可更换的部件。该X射线分析装置具有:标签,附加于可更换的部件中并且附加了表示可更换的部件的种类的符号;摄影机,将可更换的部件和标签进行摄影;以及CPU和图像认识软件,基于附加于标签的符号通过计算特定可更换的部件的种类。 | ||
申请公布号 | CN103728325A | 申请公布日期 | 2014.04.16 |
申请号 | CN201310471920.7 | 申请日期 | 2013.10.11 |
申请人 | 株式会社理学 | 发明人 | 大原孝夫;若佐谷贤治;小泽哲也;西邦夫 |
分类号 | G01N23/20(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 毛立群;王忠忠 |
主权项 | 一种X射线分析装置,当对样品照射了X射线时,通过X射线检测器检测从该样品发出的X射线,并且具备可更换的部件,其特征在于,具有:标志,设置于所述可更换的部件中;摄影机,将所述可更换的部件和所述标志进行摄影;以及部件种类计算单元,基于由所述摄影机摄影的所述标志的图像,通过计算,特定所述可更换的部件的种类名称。 | ||
地址 | 日本东京都 |