发明名称 一种监测绝缘子表面污秽受潮程度的方法
摘要 本发明公开了一种监测绝缘子表面污秽受潮程度的方法,包括如下步骤:S1在测量电路中,采集定值电阻的电压信号及电源的电压信号;S2将上述两个电压信号的初始相角相减后取绝对值得到相角差θ;S3得到相角差θ与绝缘子表面污秽的等效电阻Rx的关系式;S4根据相角差的变化,得到绝缘子表面污秽受潮程度。本发明测量误差小、设备造价便宜、监测结果分析简单。
申请公布号 CN103728344A 申请公布日期 2014.04.16
申请号 CN201310685306.0 申请日期 2013.12.13
申请人 华南理工大学 发明人 阳林;钟荣富;郝艳捧;李立浧
分类号 G01N27/04(2006.01)I 主分类号 G01N27/04(2006.01)I
代理机构 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人 蔡茂略
主权项 1.一种监测绝缘子表面污秽受潮程度的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1在测量电路中,取定值电阻的电压信号及电源的电压信号;S2将上述两个电压信号的初始相角相减后取绝对值得到相角差θ;S3根据相角差θ的计算公式,得到相角差θ与绝缘子表面污秽的等效电阻Rx的关系式;所述相角差θ的计算公式:<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><mi>&theta;</mi><mo>=</mo><mi>arctan</mi><mfrac><mn>1</mn><mrow><msub><mi>R</mi><mi>s</mi></msub><mo>[</mo><mfrac><mn>1</mn><mrow><mi>&omega;</mi><msub><mi>C</mi><mi>s</mi></msub><msubsup><mi>R</mi><mi>x</mi><mn>2</mn></msubsup></mrow></mfrac><mo>+</mo><mi>&omega;</mi><msub><mi>C</mi><mi>s</mi></msub><mo>]</mo><mo>+</mo><mfrac><mn>1</mn><mrow><mi>&omega;</mi><msub><mi>C</mi><mi>s</mi></msub><msub><mi>R</mi><mi>x</mi></msub></mrow></mfrac></mrow></mfrac></mrow></math>]]></maths>其中,Rs表示定值电阻,ω为角频率,Cs表示定值电容,Rx为绝缘子表面污秽的等效电阻;将Rs=1000Ω,角频率ω=800π,定值电容Cs=50nF代入到相角差θ的计算公式,得到相角差θ与绝缘子表面污秽的等效电阻Rx的关系式如下:<maths num="0002"><![CDATA[<math><mrow><mi>&theta;=arctan</mi><mfrac><mn>1</mn><mrow><mn>8</mn><mo>&times;</mo><msup><mn>10</mn><mn>6</mn></msup><msup><mrow><mo>(</mo><mfrac><mn>1</mn><msub><mi>R</mi><mi>x</mi></msub></mfrac><mo>+</mo><mn>5</mn><mo>&times;</mo><msup><mn>10</mn><mrow><mo>-</mo><mn>4</mn></mrow></msup><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></msup><mo>-</mo><mn>1.8744</mn></mrow></mfrac><mo>;</mo></mrow></math>]]></maths>S4根据相角差的变化,得到绝缘子表面污秽受潮程度。
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