| 摘要 |
<p>Mikroskop, insbesondere nach einem der vorangehenden Ansprüche, bestehend aus–einer Beleuchtungseinrichtung, umfassend eine Beleuchtungslichtquelle (3) und einen Beleuchtungsstrahlengang zur Beleuchtung der Probe (1) mit einem Lichtblatt,–einer Detektierungseinrichtung zur Detektierung von Licht, das von der Probe (1) abgestrahlt wird,–einer Abbildungsoptik, die die Probe (1) über ein Abbildungsobjektiv (7) in einem Abbildungsstrahlengang mindestens teilweise auf die Detektierungseinrichtung abbildet,–wobei das Lichtblatt im Fokus des Abbildungsobjektivs (7) oder einer definierten Ebene in der Nähe des geometrischen Fokus des Abbildungsobjektivs im Wesentlichen eben ist und wobei das Abbildungsobjektiv (7) eine optische Achse aufweist, die die Ebene des Lichtblattes in einem von Null verschiedenen Winkel, bevorzugt senkrecht schneidet,–wobei ein Amplituden- und/oder Phasenfilter im Beleuchtungsstrahlengang vorgesehen ist, der als Sinc Raumfilter wirkt indem er in mindestens einer Raumrichtung das Beleuchtungslicht durch Filterung der auftretenden Raumfrequenzen mit einer sinc Funktion limitiert–und/oder das Beleuchtungslicht bezüglich seiner Phase und Amplitude in mindestens einer Raumrichtung durch eine sinc Filterfunktion limitiert wird–und/oder ein kombinierter Amplituden- und Phasenfilter im Beleuchtungsstrahlengang vorgesehen ist, der eine Formung des Lichtblattes durch Beeinflussung des Transsmissionsverlaufes der Beleuchtungslichtverteilung mit einer sinc Filterfunktion vornimmt.</p> |
