发明名称 多位电阻测量的方法和电路
摘要 本发明涉及一种多位电阻测量的方法和电路。一个实例实施例是一种用于确定存储单元的二进制值的方法,所述二进制值由所述存储单元的电阻电平表示。所述方法包括反复将具有不同电容的分路电容器充电,直到选定分路电容器导致所述电压在预定时间范围内通过所述存储单元衰减到参考电压。根据所述选定分路电容器而确定所述存储单元的最高有效位的二进制值。然后将所述选定分路电容器充电到第二电压,并根据所述选定分路电容器处的所述第二电压通过所述存储单元的衰减,确定所述存储单元的最低有效位的二进制值。
申请公布号 CN103714851A 申请公布日期 2014.04.09
申请号 CN201310455246.3 申请日期 2013.09.29
申请人 国际商业机器公司 发明人 林仲汉;李静;R·K·蒙托耶
分类号 G11C11/56(2006.01)I 主分类号 G11C11/56(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 11247 代理人 于静;张亚非
主权项 一种用于确定存储单元的二进制值的方法,所述存储单元的所述二进制值由所述存储单元的电阻电平表示,所述存储单元的所述二进制值包括最高有效位和最低有效位,所述方法包括:反复将具有不同电容的分路电容器充电到第一电压,直到选定分路电容器导致所述第一电压在预定时间范围内通过所述存储单元衰减到第一参考电压;根据所述选定分路电容器而确定所述存储单元的所述最高有效位的二进制值;在确定所述存储单元的所述最高有效位的所述二进制值之后,将所述选定分路电容器充电到第二电压;根据所述选定分路电容器处的所述第二电压通过所述存储单元的衰减,确定所述存储单元的所述最低有效位的二进制值。
地址 美国纽约