观察图形光谱的天文滤光片

摘要

本发明所设计的一种信噪比高、稳定性好、有效提高物体温度测量分辨能力和检测精度使用要求的观察图形光谱的天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，该观察图形光谱的天文滤光片，通过上述的设计，实现了稳定性好，且能适用于物体的温度感应和测量，该滤光片3200～4500nm、Tavg≥90％，2000～2800nm、Ravg≤90%，大大提高了信噪比，在用于物体温度的测量和感应时，能有效的提高分辨能力和检测精度，更好的满足实际中的使用要求。

主权项

一种观察图形光谱的天文滤光片，包括以Si为原材料的基板，以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层，且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间，其特征是：所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有：102nm厚度的Ge层、142nm厚度的SiO层、171nm厚度的Ge层、263nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层、374nm厚度的SiO层、128nm厚度的Ge层、312nm厚度的SiO层、137nm厚度的Ge层、410nm厚度的SiO层、107nm厚度的Ge层、345nm厚度的SiO层、124nm厚度的Ge层和772nm厚度的SiO层；所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有：90nm厚度的Ge层、163nm厚度的SiO层、130nm厚度的Ge层、165nm厚度的SiO层、481nm厚度的Ge层和547nm厚度的SiO层。