发明名称 | 检测设备 | ||
摘要 | 本发明公开了一种检测设备,其包括:多个发光部分,它们布置成一行并以分时段方式将平行光发射到物体在其上经过的通道区域;一个或多个光接收部分,接收通过物体反射或透射穿过物体的平行光,所述光接收部分的数量小于所述发光部分的数量;以及检测部分,根据通过光接收部分接收的平行光的强度分布来检测物体的边缘和物体的具有不同反射率或透射率的部分的边缘中的至少一个。 | ||
申请公布号 | CN103712570A | 申请公布日期 | 2014.04.09 |
申请号 | CN201310225000.7 | 申请日期 | 2013.06.07 |
申请人 | 富士施乐株式会社 | 发明人 | 堀田宏之;中山秀生 |
分类号 | G01B11/24(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I |
代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人 | 陈源;李铭 |
主权项 | 一种检测设备,其包括:多个发光部分,它们布置成一行并以分时段方式将平行光发射到物体在其上经过的通道区域;一个或多个光接收部分,接收通过物体反射或透射穿过物体的平行光,所述光接收部分的数量小于所述发光部分的数量;以及检测部分,根据通过光接收部分接收的平行光的强度分布来检测物体的边缘和物体的具有不同反射率或透射率的部分的边缘中的至少一个。 | ||
地址 | 日本东京 |