| 发明名称 | 一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置，特别是一种基于EMVA1288测试标准的性能测试平台，属于图像传感器测试技术领域。本发明的测试装置是基于EMVA1288标准设计的，性能参数的定义和测试方法都比较严谨，易被用户接受和认可；本发明的测试装置结构简单，测试流程方便快捷；本发明的装置中加入温控箱，无需整体移动测试装置即可改变待测试的CMOS图像传感器芯片的温度，使得待测试的CMOS图像传感器的高温性能测试更加方便快捷。 | ||
| 申请公布号 | CN103698682A | 申请公布日期 | 2014.04.02 |
| 申请号 | CN201310714296.9 | 申请日期 | 2013.12.20 |
| 申请人 | 中国空间技术研究院 | 发明人 | 张大宇;宁永成;刘迎辉;齐向昆;张海明;张红旗;蒲瑞民;刘艳秋;王贺;丛山 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G05B19/042(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2014.01)I |
| 代理机构 | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人 | 安丽 |
| 主权项 | 一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置，其特征在于：该装置包括暗室（1）、积分球光源（2）、温控箱（4）、FPGA图像采集电路（5）、导轨（6）、scars电缆（7）和上位机（10）；上位机（10）内置有PCI采集卡（9）；所述的积分球光源（2）有光源出光口3；温控箱（4）上有入光口；所述的温控箱（4）放置在暗室（1）的底部，FPGA图像采集电路（5）和待测试的CMOS图像传感器（8）放置在温控箱（4）内，且FPGA图像采集电路（5）和待测试的CMOS图像传感器（8）通过夹具固定连接且均与暗室（1）的底部平行；导轨（6）固定在暗室（1）的顶端；积分球光源（2）固定在导轨（6）上并可在导轨（6）上滑动，积分球光源（2）的光源出光口3通过温控箱（4）上的入光口与待测试的CMOS图像传感器（8）正对；光源出光口3的平面与待测试的CMOS图像传感器（8）的平面平行；FPGA图像采集电路（5）通过scars电缆（7）与上位机（10）连接。 | ||
| 地址 | 100194 北京市海淀区友谊路104号 | ||