摘要 |
Verfahren zum Ermitteln von dreidimensionalen Koordinaten eines Objektpunkts auf einer Oberfläche eines Objekts, umfassend folgende Schritte: Bereitstellen einer transparenten Platte mit einem ersten Bereich und einem zweiten Bereich, wobei der zweite Bereich einen anderen Keilwinkel als der erste Bereich aufweist; Teilen eines ersten Lichtstrahls in ein erstes Licht und ein zweites Licht; Senden des ersten Lichts durch den ersten Bereich oder den zweiten Bereich; Kombinieren des ersten Lichts und des zweiten Lichts, um ein Streifenmuster auf der Oberfläche des Objekts zu erzeugen, wobei der Abstand des Streifenmusters von dem Keilwinkel abhängt, durch welchen sich das erste Licht bewegt; Abbilden des Objektpunkts auf einem Anordnungspunkt auf einer photosensitiven Anordnung, um einen elektrischen Datenwert zu erhalten; Ermitteln der dreidimensionalen Koordinaten des ersten Objektpunkts basierend zumindest teilweise auf dem elektrischen Datenwert. |