发明名称 基于可调电流源的电阻测量方法及装置
摘要 本发明公开了一种基于可调电流源的电阻测量方法及装置,依次连接电流源、比较器和MCU;将标校电阻的一端与地连接,另一端分别与比较器和电流源连接,由MCU控制电流源的电流逐渐变化,当加在标校电阻上的电压超过比较器预设的参考电压值后,比较器输出反相,此时MCU记录下输出给电流源的电流;依次测量多个标校电阻对应的电流,并将各个标校电阻及其对应的电流拟合成电流电阻曲线。通过对标校电阻的测量得到电流电阻曲线,并通过MCU控制电流源的电流逐渐变化,当比较器输出反相,MCU记录下输出给电流源的电流值,并根据该电流值以及电流电阻曲线计算出该待测电阻的电阻值。该方法硬件结构简单可靠,在电阻测量应用中可提供高精度低成本的电阻测量。
申请公布号 CN103675461A 申请公布日期 2014.03.26
申请号 CN201310711290.6 申请日期 2013.12.20
申请人 北京航天测控技术有限公司 发明人 高伟强;胡志臣;刘家玮;储艳丽;李浩璧
分类号 G01R27/14(2006.01)I 主分类号 G01R27/14(2006.01)I
代理机构 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人 梁军
主权项 一种基于可调电流源的电阻测量方法,其特征在于,包括:依次连接的电流源、比较器和MCU;将标校电阻的一端与地连接,另一端分别与所述比较器和所述电流源连接,由所述MCU控制所述电流源的电流逐渐变化,当加在所述标校电阻上的电压超过所述比较器预设的参考电压值后,所述比较器输出反相,此时MCU记录下输出给所述电流源的电流;依次测量多个标校电阻对应的电流,并将各个标校电阻及其对应的电流拟合成电流电阻曲线;测量待测电阻的电阻时,将待测电阻的一端与地连接,另一端分别与所述比较器和所述电流源连接,通过所述MCU控制电流源输出的电流逐渐变化,当加在所述待测电阻上的电压超过比较器预设的参考电压值后,所述比较器输出反相,此时MCU记录下输出给电流源的电流值,并根据该电流值以及所述电流电阻曲线计算出该待测电阻的电阻值。
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