发明名称 一种光栅外差干涉自准直测量装置
摘要 一种光栅外差干涉自准直测量装置,该装置主要包括双频激光器、1/4波片、分光系统、光电转换系统、偏振分光镜、反射镜和光栅。激光器射出双频激光通过1/4波片后,变为两束相互垂直的线偏振光。进入分光系统后被分为三路,一路进入参考光路光电转换系统,剩余两路进入正负测量臂偏振分光镜。在进入偏振分光镜的激光中,其反射s光经反射镜反射到光栅上,其中入射角被设定为依据相应衍射级次的自准直角。当光栅在水平和垂向移动时,测量光路光电转换系统检测到的两路包含位移相关信息的信号,结合参考光信息,即可解得光栅水平及垂向位移。由于自准直角设置不取决于光栅位移,因此本发明装置能进行水平大行程位移及垂向位移测量。
申请公布号 CN103673891A 申请公布日期 2014.03.26
申请号 CN201310595336.2 申请日期 2013.11.21
申请人 清华大学;北京华卓精科科技有限公司 发明人 朱煜;胡金春;陈龙敏;成荣;高阵雨;杨开明
分类号 G01B11/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人 邸更岩
主权项 一种光栅外差干涉自准直测量装置,其特征在于:该自准直测量装置包括双频激光器(1)、1/4波片(2)、分光系统(3)、参考臂光电转换系统(4)、负m级测量臂偏振分光镜(5)、负m级测量臂第一1/4波片(6)、负m级测量臂第一反射镜(7)、负m级测量臂第二1/4波片(8)、负m级测量臂第二反射镜(9)、正m级测量臂偏振分光镜(10)、正m级测量臂第一1/4波片(11)、正m级测量臂第一反射镜(12)、正m级测量臂第二1/4波片(13)、正m级测量臂第二反射镜(14)、光栅(15)、负m级测量臂光电转换系统(16)和正m级测量臂光电转换系统(17),其中m为正整数,且m的最大值由光栅的最大自准直角确定;双频激光器(1)出射一束含有两个不同频率的左旋和右旋圆偏振光的光束,所述光束经过1/4波片(2)之后成为包含两个偏振态相互垂直线偏振光的光束,然后经过分光系统(3)后分为参考光、负m级测量光和正m级测量光三路光;参考光进入参考臂光电转换系统(4),负m级测量光进入负m级测量臂偏振分光镜(5),正m级测量光进入正m级测量臂偏振分光镜(10);负m级测量臂偏振分光镜(5)将负m级测量光分成频率不同的一束反射s光和一束透射p光;此反射s光先经过负m级测量臂第一1/4波片(6),而后经过负m级测量臂第一反射镜(7)反射后又经过负m级测量臂第一1/4波片(6)回到负m级测量臂偏振分光镜(5);所述负m级测量臂偏振分光镜(5)的透射p光经由负m级测量臂第二1/4波片(8)和负m级测量臂第二反射镜(9)后以负m级自准直角入射到光栅(15)上,由光栅(15)反射回负m级测量臂第二反射镜(9),再由其反射后经过负m级测量臂第二1/4波片(8)回到负m级测量臂偏振分光镜(5);两束光在偏振分光面处叠加合为一束光,进入负m级测量臂光电转换系统(16);正m级测量臂偏振分光镜(10)将正m级测量光分成频率不同的一束反射s光和一束透射p光;此反射s光先经过正m级测量臂第一1/4波片(11),而后经过正m级测量臂第一反射镜(12)反射后又经过正m级测量臂第一1/4波片(11)回到正m级测量臂偏振分光镜(10);所述正m级测量臂偏振分光镜(10)的透射p光经由正m级测量臂第二1/4波片(13)和正m级测量臂第二反射镜(14)后以正m级自准直角入射到光栅(15)上,由光栅(15)反射回正m级测量臂第二反射镜(14),再由其反射后经过正m级测量臂第二1/4波片(13)回到正m级测量臂偏振分光镜(10);两束光在偏振分光面处叠加合为一束光,进入正m级测量臂光电转换系统(17);当光栅(15)在x向和z向移动时,由负m级测量臂光电转换系统(16)和正m级测量臂光电转换系统(17)检测到的两路信号中分别包含不同的x向位移和z向位移信息,结合参考臂光电转换系统(4)检测到的参考光信息,即可解得光栅的x向和z向位移值。
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