发明名称 激光雷达探测光源发散角测量装置与方法
摘要 本发明公开了一种激光雷达探测光源发散角测量装置与方法,主要应用于激光雷达发射系统调校过程中,对扩束后的探测光发散角进行测评和调整。装置主要由探测光源、光学升降台、准直望远镜、可升降光学调整架、可调谐双狭缝光阑、光阑、高精密平移平台、光功率计等部件组成。装置设计了可调谐双狭缝光阑,双狭缝光阑将被测光源的发射光束整形为双光束,仅需测量双光束的离散程度,就可以测得光束的发散角,不需要测量整个光斑光强分布,从而实现对不同直径的激光雷探测光源光束的发散角进行测量,该装置与方法可测量最小光束直径为2mm,最大光束直径为400mm,可以实现0.01mrad光束发散角的测量。
申请公布号 CN103645471A 申请公布日期 2014.03.19
申请号 CN201310713857.3 申请日期 2013.12.20
申请人 中国科学院合肥物质科学研究院 发明人 董云升;张天舒;陆亦怀;刘建国;刘文清;赵南京;范广强
分类号 G01S7/497(2006.01)I 主分类号 G01S7/497(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 杨学明;孟卜娟
主权项 一种激光雷达探测光源发散角测量装置,其特征在于,包括:探测光源(1)、光学升降台(2)、准直望远镜(3)、可升降光学调整架一(4)、可调谐双狭缝光阑(5)、可升降光学调整架二(6)、光阑(7)、高精密平移平台(8)、光功率计(9),所述部件依次固定在测量平台(10)上;所述探测光源(1)水平安装在升降光学调整架一(4)上,高度可调,调整光学升级台(2)使得探测光源(1)发射光束沿系统中心光轴(11)发射;所述准直望远镜(3)固定在升降光学调整架一(4)上,高度可调,俯仰角度可调,调整升降光学调整架一(4)使得准直望远镜(3)的中心轴与系统中心光轴(11)共轴,探测光源(1)光束经准直望远镜(3)准直扩束后发射向可调谐双狭缝光阑(5);所述可调谐双狭缝光阑(5)固定在可升降光学调整架二(6)上,高度可调,俯仰角度可调,可调谐双狭缝光阑(5)设置有两个狭缝,分别为狭缝A(12)和狭缝B(13),狭缝A(12)和狭缝B(13)的狭缝宽度可调,狭缝A(12)和狭缝B(13)的狭缝间距可调,狭缝宽度范围为0.5mm‑5mm,狭缝间距可调整范围为4mm‑120mm;所述光功率计(9)固定安装在高精密平移平台(8)上,垂直高度和水平距离可调整,其中水平设置有刻度线,可以精密调整,水平调整精度为0.1mm,测量范围为0‑120mm;光功率计(9)具有测量精度高特点,测量波长范围150nm‑8um,测量功率范围60uw‑3w,测量精度3%;所述光阑(7)固定安装在光功率计(9)的探测器前,光阑(7)外径为30mm,中心设计有孔径可调的通光孔,通光孔可调谐范围0.5mm‑5mm;光阑(7)、高精密平移平台(8)和光功率计(9)安装后是一个整体,可以沿系统中心光轴(11)方向在测量平台(10)上平行移动,水平调谐高精密平移平台(8)时,光阑(7)和光功率计(9)可以沿垂直于系统中心光轴(11)方向水平步进移动,进而实现对光束光斑能量轴向分布的精密测量。
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