| 发明名称 |
Temperaturmesseinrichtung zur thermischen Analyse von Proben |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
CH473384(A) |
申请公布日期 |
1969.05.31 |
| 申请号 |
CH19670004453 |
申请日期 |
1967.03.30 |
| 申请人 |
CHYO BALANCE CORPORATION |
发明人 |
IWATA,SHIGEO;MORIKAWA,HARUMI |
| 分类号 |
B01L3/04;G01K7/04;G01N25/02;G01N25/48;(IPC1-7):G01K7/04 |
主分类号 |
B01L3/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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