发明名称 |
用于集成电路的反射仪测试装置 |
摘要 |
种用于允许装置进行测试的反射仪,反射仪包含:脉冲辐射源;第一光导电元件,第一光导电元件被配置成响应于来自此脉冲辐射源的照射而输出脉冲;第二光导电元件,第二光导电元件被配置成接收脉冲;传输线设置,传输线设置被配置成将脉冲从第一光导电元件导至待测装置,并将反射自待测装置的脉冲导至第二光导电元件;以及终端电阻,终端电阻被提供为用于此传输线,且终端电阻被配置成匹配传输线的阻抗。 |
申请公布号 |
CN103635819A |
申请公布日期 |
2014.03.12 |
申请号 |
CN201280015538.9 |
申请日期 |
2012.02.13 |
申请人 |
特瑞视觉有限公司 |
发明人 |
B·E·科尔 |
分类号 |
G01R31/11(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R31/308(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/11(2006.01)I |
代理机构 |
北京润平知识产权代理有限公司 11283 |
代理人 |
陈潇潇;肖冰滨 |
主权项 |
一种用于允许一装置进行一测试的反射仪,该反射仪包含:一脉冲辐射源;一第一光导电元件,该第一光导电元件被配置成响应于来自所述脉冲辐射源的照射而输出一脉冲;一第二光导电元件,该第二光导电元件被配置成接收一脉冲;一传输线设置,该传输线设置被配置成将来自所述第一光导电元件的脉冲导至待测装置,并将反射自该待测装置的脉冲导至所述第二光导电元件;以及一终端电阻,该终端电阻被提供以用于所述传输线,且该终端电阻被配置成匹配所述传输线的阻抗。 |
地址 |
英国剑桥郡 |