发明名称 |
超级结半导体器件结构及其制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种超级结半导体器件结构,包括N型衬底,从N型衬底背面引出的漏极,所述N型衬底上方分为元胞区域与终端区域;在元胞区域中的N型衬底上方形成有N-外延层,该N-外延层中形成有多个沟槽,在沟槽中形成有P型外延层;其中,终端区域中N型衬底上具有一绝缘氧化层,该绝缘氧化层上具有第二N型衬底,该第二N型衬底上具有N-外延层。本发明还公开了所述器件结构的制作方法。本发明能够减少超级结半导体器件结构中终端环的数量,缩小超级结半导体器件结构所占用芯片的面积。 |
申请公布号 |
CN102412296B |
申请公布日期 |
2014.02.26 |
申请号 |
CN201110092102.7 |
申请日期 |
2011.04.13 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
王邦麟 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
丁纪铁 |
主权项 |
一种超级结半导体器件结构,包括:N型衬底,从该N型衬底背面引出的漏极,所述N型衬底上方分为元胞区域与终端区域;所述元胞区域中,所述N型衬底上端设有N‑外延层,在该N‑外延层中具有多个沟槽,所述沟槽内填充有P型外延层;其特征是:在所述终端区域中,所述N型衬底上端具有一绝缘氧化层,该绝缘氧化层上端具有第二N型衬底,该第二N型衬底上端具有N‑外延层,该N‑外延层中具有多个沟槽,所述终端区域中的多个沟槽部分位于所述第二N型衬底中,并且与绝缘氧化层形成接触。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |