| 发明名称 | 一种针对无反并联二极管的IGBT模块测试电路及方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种针对无反并联二极管的IGBT模块测试电路及方法。所述电路包括待测IGBT、第一开关及第一二极管，其特征在于，所述第一开关与第一二极管串联，所述待测IGBT与第一开关及第一二极管并联。所述方法包括以下步骤。S1、将待测IGBT通过第一开关与第一二极管并联外接，所述第一开关断开使第一二极管处于关断状态。S2、为所述待测IGBT施加测试电压，同时闭合所述第一开关使所述第一二极管开通。S3、对所述待测IGBT两端电流进行监测，完成测试。 | ||
| 申请公布号 | CN103592591A | 申请公布日期 | 2014.02.19 |
| 申请号 | CN201310593098.1 | 申请日期 | 2013.11.20 |
| 申请人 | 西安永电电气有限责任公司 | 发明人 | 李君伟 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2014.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 常亮 |
| 主权项 | 一种针对无反并联二极管的IGBT模块测试电路，包括待测IGBT、第一开关及第一二极管，其特征在于，所述第一开关与第一二极管串联，所述待测IGBT与第一开关及第一二极管并联。 | ||
| 地址 | 710016 陕西省西安市经开区文景北路15号 | ||