发明名称 电子器件制造方法、封装制造方法、电子器件和电子设备
摘要 本发明提供电子器件制造方法、封装制造方法、电子器件和电子设备。本发明的封装的制造方法包括以下的工序:准备设置低熔点玻璃(270)的底座基板(210)和盖(259);在减压环境下将低熔点玻璃(270)加热到流动点以上,使低熔点玻璃(270)消泡;在利用低熔点玻璃(270)使底座基板(210)以及盖(250)重合之后,在减压环境下将低熔点玻璃(270)加热到流动点以上,接合底座基板(210)以及盖(250)。
申请公布号 CN103594384A 申请公布日期 2014.02.19
申请号 CN201310343947.8 申请日期 2013.08.08
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 镰仓知之
分类号 H01L21/52(2006.01)I;H01L21/54(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I;H01L23/02(2006.01)I 主分类号 H01L21/52(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 李辉;黄纶伟
主权项 一种电子器件的制造方法,其特征在于,包括以下的工序:准备至少在一方设置有低熔点玻璃的底座基板以及盖体;在减压环境下将所述低熔点玻璃加热到流动点以上,对所述低熔点玻璃进行消泡;在隔着所述低熔点玻璃使所述底座基板以及所述盖体重合之后,在减压环境下将所述低熔点玻璃加热到流动点以上,接合所述底座基板以及所述盖体;以及在所述接合的工序之前,利用保持部件在所述底座基板上安装功能元件。
地址 日本东京都