发明名称 | 微小孔径工件内壁的光学检测系统 | ||
摘要 | 本发明为一种微小孔径工件内壁的光学检测系统,本发明检测系统能一次性获得整周内壁的反射图像,采集得到的图片可保存于计算机上,并利用数字图像处理技术将其展开为工件内壁的360度展开图。其原理为由同轴光源发出的平行光竖直向下进入工件孔内,并且经过球形反射镜的反射照亮工件内壁。工件内壁上的反射光线再经过球形反射镜的反射向上,通过同轴光源的透光面进入远心镜头,从而在CCD中形成反射图像。工件内壁某高度上的一段圆环图像,经过反射可在CCD中形成相应的圆环图像。通过对CCD获得的反射图像运用数字图像处理技术,可将其变换为内壁整周展开图像。本发明解决了微小孔径的工件内壁图像获取难题,且降低了检测设备的成本。 | ||
申请公布号 | CN103575748A | 申请公布日期 | 2014.02.12 |
申请号 | CN201310569439.1 | 申请日期 | 2013.11.15 |
申请人 | 上海交通大学 | 发明人 | 游睿;沈立成;姚瑶;李超;陈欣 |
分类号 | G01N21/95(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/95(2006.01)I |
代理机构 | 上海浦东良风专利代理有限责任公司 31113 | 代理人 | 陈志良 |
主权项 | 一种微小孔径工件内壁的光学检测系统,其特征在于:所述的检测系统包括面阵CCD摄像机(1)、远心镜头(2)、同轴光源(3)、被测工件(4)、球形反射镜(5)、反射镜支架(6)、精密竖直位移平台(7)、精密水平位移平台(8)、光学支架(9)和计算机(10);将远心镜头(2)与CCD摄像机(1)前段镜头装配起来,并与同轴光源(3)、被测工件(4)按照从上到下的顺序,依次固定在光学支架(8)之上,并调节光学支架位置,使镜头轴心与被测工件轴心在同一竖直轴线上,将球形反射镜(5)放置并固定于反射镜支架(6)上,并将反射镜支架(6)水平固定于精密竖直位移平台(7)上,精密竖直位移平台(7)和精密水平位移平台(8)组合使用,实现球形反射镜(5)所在空间位置的精密调节,调节精密竖直位移平台(7)的高度,使球形反射镜(5)从被测工件(4)的底部深入工件孔内部,并调整精密水平位移平台,使球形反射镜的中心位于被测工件竖直轴心上,将CCD摄像机(1)通过千兆网线与计算机(10)相连。 | ||
地址 | 200030 上海市徐汇区华山路1954号 |