发明名称 用于记忆体单元与其阵列免于穿通泄漏之操作方法
摘要 一种积体电路包含记忆体单元结构,其包含第一单元以及第二单元。第一单元在基板上包含第一储存结构以及第一闸极。第一闸极在第一储存结构上。第二单元在基板上包含第二储存结构以及第二闸极。第二闸极在第二储存结构上。第一闸极与第二闸极分离。第一掺杂区域邻近第一单元且耦接至第一源极。第二掺杂区域经组态处于基板内且邻近第二单元。第二掺杂区域耦接至第二源极。至少一第三掺杂区域处于所述第一单元与所述第二单元之间,其中所述第三掺杂区域为浮动的。
申请公布号 TWI426520 申请公布日期 2014.02.11
申请号 TW097142856 申请日期 2008.11.06
申请人 旺宏电子股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 发明人 欧天凡;蔡文哲;黄竣祥
分类号 G11C16/14;G11C11/4063 主分类号 G11C16/14
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路16号