发明名称 |
用于记忆体单元与其阵列免于穿通泄漏之操作方法 |
摘要 |
一种积体电路包含记忆体单元结构,其包含第一单元以及第二单元。第一单元在基板上包含第一储存结构以及第一闸极。第一闸极在第一储存结构上。第二单元在基板上包含第二储存结构以及第二闸极。第二闸极在第二储存结构上。第一闸极与第二闸极分离。第一掺杂区域邻近第一单元且耦接至第一源极。第二掺杂区域经组态处于基板内且邻近第二单元。第二掺杂区域耦接至第二源极。至少一第三掺杂区域处于所述第一单元与所述第二单元之间,其中所述第三掺杂区域为浮动的。 |
申请公布号 |
TWI426520 |
申请公布日期 |
2014.02.11 |
申请号 |
TW097142856 |
申请日期 |
2008.11.06 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |
发明人 |
欧天凡;蔡文哲;黄竣祥 |
分类号 |
G11C16/14;G11C11/4063 |
主分类号 |
G11C16/14 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |