探针

摘要

所揭露者为一种稳定地传输测试信号之探针。所述探针电性连接半导体元件与测试器，以测试所述半导体元件。所述探针可包含：上部柱塞，其经组态以电性连接至所述半导体元件；下部柱塞，其经组态以电性连接至所述测试器；弹性构件，其安置于所述上部柱塞与所述下部柱塞之间，且弹性地偏置所述上部柱塞与所述下部柱塞以使各柱塞彼此隔开；导电构件，其安置于所述弹性构件内部或外部且电性连接所述上部柱塞与所述下部柱塞；以及圆筒，其中容纳所述上部柱塞、所述下部柱塞、所述弹性构件，以及所述导电构件。