发明名称 Anrissdetektion und Rissüberwachung mittels Lumineszenz
摘要 Verfahren zur Anrissdetektion an einem ermüdungsbeanspruchten Bauteil, umfassend: – Behandeln zumindest eines Teils einer Bauteiloberfläche des ermüdungsbeanspruchten Bauteils durch Aufbringen eines lumineszierenden Indikators, sodass die behandelte Bauteiloberfläche mit einer geschlossenen Indikatorschicht bedeckt ist und die Indikatorschicht fest auf dem zumindest einen Teil der Bauteiloberfläche haftet; – zumindest abschnittsweises Erzeugen einer Abdeckschicht auf der Indikatorschicht, sodass die abgedeckte Indikatorschicht kein Lumineszenzlicht abgibt; – Beaufschlagen des zumindest abschnittsweise mit einer abgedeckten Indikatorschicht versehenen Bauteils mit einer Ermüdungsbeanspruchung; – Beleuchten des zumindest einen Teils der Bauteiloberfläche mit einem Anregungslicht während der Ermüdungsbeanspruchung; – Überwachen des zumindest einen Teils der Bauteiloberfläche während der Ermüdungsbeanspruchung mit einer Überwachungsvorrichtung und/oder durch visuelle Inspektion, um ein von der Indikatorschicht abgestrahltes Lumineszenzlicht zu detektieren, wenn ein solches die Abdeckschicht durchdringt oder wenn die Abdeckschicht die Indikatorschicht zumindest abschnittsweise freigibt.
申请公布号 DE102012107037(B3) 申请公布日期 2014.02.06
申请号 DE201210107037 申请日期 2012.08.01
申请人 BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND, VERTRETEN DURCH DAS BUNDESMINISTERIUM FUER WIRTSCHAFT UND TECHNOLOGIE, DIESES VERTRETEN DURCH DEN PRAESIDENTEN DER BAM, BUNDESANSTALT FUER MATERIALFORSCHUNG UND -PRUEFUNG 发明人 MEHDIANPOUR, MILAD
分类号 G01N21/91 主分类号 G01N21/91
代理机构 代理人
主权项
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