发明名称 发光二极管测试装置
摘要 一种发光二极管测试装置包括一固定基板、装置于该固定基板上用于分别承载发光二极管并与发光二极管导热性贴合的若干导热部及装置于该固定基板上用于分别与发光二极管导电性连接的若干电连接部,每一电连接部包括用于分别与发光二极管导电性连接的第一电连接部及第二电连接部,该导热部能够相对于该电连接部的第一电连接部、第二电连接部弹性地伸缩,从而实现装置所述发光二极管于导热部上且该导热部将发光二极管抵靠在所述电连接部的第一电连接部、第二电连接部上或将所述发光二极管从导热部上取出。与现有技术相比,本发明的发光二极管测试装置操作方便、快捷而具有较高的测试工作效率。
申请公布号 CN103558538A 申请公布日期 2014.02.05
申请号 CN201310328969.7 申请日期 2013.07.31
申请人 深圳清华大学研究院 发明人 曹鸣臬;刘岩;胡益民;敬刚;刘淮源;张志甜;陆兆隆;佘露;曹广忠;汤皎宁;肖文鹏;袁文龙;张超;朱惠忠;梁荣;丁钊
分类号 G01R31/26(2014.01)I;G01R31/44(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2014.01)I
代理机构 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人 孔丽霞
主权项 一种发光二极管测试装置,用以对若干发光二极管进行测试,其特征在于:该发光二极管测试装置包括一固定基板、装置于该固定基板上用于分别承载发光二极管并与发光二极管导热性贴合的若干导热部及装置于该固定基板上用于分别与发光二极管导电性连接的若干电连接部,每一电连接部包括用于分别与发光二极管导电性连接的第一电连接部及第二电连接部,该导热部能够相对于该电连接部的第一电连接部、第二电连接部弹性地伸缩,从而实现装置所述发光二极管于导热部上且该导热部将发光二极管抵靠在所述电连接部的第一电连接部、第二电连接部上或将所述发光二极管从导热部上取出。
地址 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园南区深圳清华大学研究院大楼A302室