发明名称 用于监测电弧焊接过程的系统及对应的监测方法
摘要 在此描述了一种用于监测电弧焊接过程的系统,该系统包括电弧电压传感器装置(21)和电弧电流传感器装置(22),用于采集由所述电弧电压传感器装置(21)测量的电压值(V)和由所述电弧电流传感器装置(22)测量的电流值(I)的装置(23),以及被配置用于处理所述电压值(V)和所述电流值(I)以计算与所述电弧焊接过程的电弧状态对应的一个或者多个时间值向量(Ton[j];TonV[j),TonI[j])的处理装置(25),根据本发明,所述处理装置(25)被配置用于执行以下操作:通过以下步骤计算电弧时间(Ton[j];TonV[j),TonI[j])的基准值(TssupV,TsinfV,TssupI,TsinfI):计算从电压值(V)和从电流值(I)所得到的相应的电弧时间向量(Ton[j];TonV[j),TonI[j])的统计分布,所述电压值(V)和所述电流值(I)在一个或者多个基准焊缝的制作期间被测量;以及计算与所述分布的电弧时间值(x)对应的相应的合格阈值(TssupV,TsinfV,TssupI,TsinfI)作为基准值,由此所述分布的概率(P(x))采用预先确定的值(Pinf,Psup);通过以下步骤对连续的焊缝进行监测:与所述连续的焊缝中的一个或者多个对应,从由所述电弧电压传感器装置(21)测量的电压值(V)和从由所述电弧电流传感器装置(22)测量的电流值(I)得到相应的电弧时间向量(Ton[j];TonV[j),TonI[j]);以及对所述电弧时间向量(Ton[j];TonV[j),TonI[j])进行滤波以得到对应的经滤波的电弧时间向量(Tm[i]);将所述经滤波的电弧时间向量(Tm[i])与所述相应的合格阈值(TssupV,TsinfV,TssupI,TsinfI)比较;以及在所述比较操作指示所述经滤波的电弧时间向量(Tm[i])没有被包含在所述合格阈值(Tssup,Tsinf)之间时,标识所述焊接过程的不稳定度(UV,UI,D)。
申请公布号 CN101977720B 申请公布日期 2014.02.05
申请号 CN201080001267.2 申请日期 2010.02.10
申请人 C.R.F.阿西安尼顾问公司 发明人 G·丹杰洛;G·帕斯奎塔茨;A·泰雷诺
分类号 B23K9/095(2006.01)I 主分类号 B23K9/095(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 李湘;高为
主权项 一种用于监测电弧焊接过程的系统,所述系统包括电弧电压传感器装置(21)和电弧电流传感器装置(22),用于采集由所述电弧电压传感器装置(21)测量的电压值(V)和由所述电弧电流传感器装置(22)测量的电流值(I)的装置(23),以及被配置用于处理所述电压值(V)和所述电流值(I)以计算与所述电弧焊接过程的电弧状态对应的表示时间值向量的一个或者多个电弧时间向量(Ton[j];TonV[j],TonI[j])的处理装置(25),所述系统的特征在于:所述处理装置(25)被配置用于执行以下操作:通过以下步骤计算电弧时间向量(Ton[j];TonV[j],TonI[j])的基准值(TssupV,TsinfV,TssupI,TsinfI):计算从电压值(V)和从电流值(I)所得到的相应的电弧时间向量(Ton[j];TonV[j],TonI[j])的统计分布,所述电压值(V)和所述电流值(I)在一个或者多个基准焊缝的制作期间被测量;以及计算与所述分布的电弧时间值(x)对应的相应的合格阈值(TssupV,TsinfV,TssupI,TsinfI)作为基准值,由此所述分布的概率(P(x))采用预先确定的值(Pinf,Psup);通过以下步骤对连续的焊缝进行监测:与所述连续的焊缝中的一个或者多个对应,从由所述电弧电压传感器装置(21)测量的电压值(V)和从由所述的电弧电流传感器装置(22)测量的电流值(I)得到相应的电弧时间向量(Ton[j];TonV[j],TonI[j]);以及对所述电弧时间向量(Ton[j];TonV[j],TonI[j])进行滤波以得到对应的经滤波的电弧时间向量(Tm[i]);将所述经滤波的电弧时间向量(Tm[i])与所述相应的合格阈值(TssupV,TsinfV,TssupI,TsinfI)比较;以及在所述比较操作指示所述经滤波的、所述电弧时间向量(Tm[i])的 电弧时间值没有被包含在所述合格阈值(Tssup,Tsinf)之间时,标识所述焊接过程的不稳定度(UV,UI,D)。
地址 意大利奥尔巴萨诺