发明名称 自动测试装置
摘要 本发明揭露一种自动测试装置,用以测试多个电路板。自动测试装置包括控制单元、夹取件以及测试单元。夹取件耦接控制单元。控制单元控制夹取件将这些电路板中位于输出位置之至少一电路板夹取至测试位置。测试单元耦接控制单元。测试单元用以测试位于测试位置的电路板,并提供测试信号至控制单元。控制单元根据测试信号控制夹取件夹取电路板至多个不同预设位置的其中之一。
申请公布号 TWI425224 申请公布日期 2014.02.01
申请号 TW098125086 申请日期 2009.07.24
申请人 和硕联合科技股份有限公司 台北市北投区立功街76号5楼 发明人 洪佑松;陈昭廷;黄鸿杰
分类号 G01R31/01;G11C29/56 主分类号 G01R31/01
代理机构 代理人 刘正格 台北市中山区中山北路1段53巷20号之1
主权项
地址 台北市北投区立功街76号5楼