| 摘要 |
La présente invention concerne un dispositif de caractérisation (10) d'un échantillon (11) comportant un instrument de mesure (20) adapté à déterminer une caractéristique physique de l'échantillon en un point de celui-ci. Plus précisément, le dispositif de caractérisation selon l'invention comporte un système de positionnement (30) adapté à positionner l'instrument de mesure par rapport à l'échantillon, afin d'effectuer une mesure en un point de mesure localisé de manière absolue sur l'échantillon. À cet effet, l'invention propose un dispositif de caractérisation dont le système de positionnement comprend : - une mire de localisation (31) rendue solidaire de l'échantillon, et définissant un référentiel lié à l'échantillon - des moyens d'acquisition et d'analyse d'images comportant : - des moyens d'éclairage (321) de la mire de localisation, - un système d'imagerie optique (322), solidaire de l'instrument de mesure, adapté à acquérir une image (31 P) d'au moins une partie de la mire de localisation, et - des moyens d'analyse d'images (33) adaptés à analyser l'image de la partie de la mire de localisation pour déterminer la position et l'orientation du système d'imagerie optique par rapport à la mire de localisation, - des moyens de calibration (34, 34A) permettant de déterminer la position relative de l'instrument de mesure par rapport au système d'imagerie optique, et - des moyens de traitement des résultats de l'analyse d'images et de la calibration (13) adaptés à déterminer la position absolue du point de mesure localisé dans le référentiel lié à l'échantillon, la caractéristique physique dudit échantillon étant déterminée par l'instrument de mesure au point de mesure localisée. |
