一种半导体光电特性测试盒

摘要

本实用新型涉及一种半导体光电特性测试盒，包括测试盒主体，与所述测试盒主体相配合的前板、前盖板、盖板、后板、后盖板，所述前板上带有前板插座定位通孔用于固定测试盒插座，所述测试盒插座上固定有发射激光器，所述前板通过前板配合凸出结构与所述测试盒主体配合连接，所述前板带有前板插针孔用于前板与测试盒主体的位置固定，所述前板还带有前板定位通孔、前盖板定位螺孔用于前板与前盖板的位置固定；后板上设置有积分探测器，后盖板带有后盖定位螺孔用于后盖板与测试盒主体的位置固定。采用该装置进行导体光电特性测试，避免了人工测量所带来的测量误差和对器件的接触损坏，进而提高了测量数据的准确性，一致性。

主权项

一种半导体光电特性测试盒，包括测试盒主体，与所述测试盒主体相配合的前板、前盖板、盖板、后板、后盖板，所述前板上带有前板插座定位通孔用于固定测试盒插座，所述测试盒插座上固定有发射激光器，所述发射激光器通过导线通孔中的闭环线路连接，形成一个封闭的测试系统；所述前板通过前板配合凸出结构与所述测试盒主体配合连接，所述前板带有前板插针孔用于前板与测试盒主体的位置固定，所述前板还带有前板定位通孔、前盖板定位螺孔用于前板与前盖板的位置固定；后板上设置有积分探测器，通过压筒与盖板配合连接，盖板与后板配合凹槽结构配合连接，后板配合凸出结构与测试盒主体配合连接，使积分探测器处于位置锁定状态，后盖板带有后盖定位螺孔用于后盖板与测试盒主体的位置固定。