摘要 |
<p>L'invention propose un procédé d'étude d'une source d'émission de photons en un site, le procédé comprenant les étapes consistant à: -mesurer(100)en un point en surface dudit site, des données spectrométriques, et des coordonnées géographiques du point de mesure, et mémoriser lesdites données en association avec lesdites coordonnées, -déplacer (200) le détecteur jusqu'à au moins un autre point du site et, en chaque point, réitérer l'étape de mesure et de mémorisation, et -mettre en uvre, à partir d'une fonction de réponse prédéterminée du détecteur, sur l'ensemble des données spectrométriques de surface mesurées, une étape de déconvolution (500), pour obtenir des informations spectrométriques de surface affinées, les informations spectrométriques de surface affinées permettant la localisation géographique et l'évaluation du taux d'émission de photons de ladite source. L'invention propose également un système adapté pour la mise en uvre du procédé.</p> |