发明名称 非晶矽元件之制造方法
摘要
申请公布号 TW098970 申请公布日期 1988.05.01
申请号 TW075103886 申请日期 1986.08.20
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 发明人 山崎舜平;犬岛乔;永山进;金花美树雄;阿部雅芳;深田武;铃木邦夫
分类号 H01L21/02 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人 林敏生 台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼
主权项 1.一半导体制造方法包括..在负压下于基质上形成半导体层的步骤;在负压下,对半导体层完成光处理的步骤;供给中和剂至平导体层附近的步骤。2.请求专利部份第1.项的方法,其中该药剂是从卤素,惰性气体,氧或氮中选出。3.请求专利部份第2.项的方法,其中的光处理在压力低于l0-3torr下完成。4.请求粪利部份第3.项的方法,其中的光处理是在温度低于5OC下完成。
地址 日本