| 摘要 |
La présente invention concerne un procédé de mesure de la conductivité thermique selon au moins deux directions d'un matériau mince anisotrope (10) comportant les étapes consistant à positionner à la surface du matériau (10) une pluralité N de capteurs (22) aptes à mesurer la température dudit matériau ; générer un flux de chaleur (Phi) à partir d'une source de chaleur (21) positionnée sur la surface dudit matériau (10) ; déterminer une cartographie de la température théorique du matériau (10) au niveau des N points de mesure des N capteurs (22) selon au moins deux directions (x, y) au moyen d'un calculateur (400), déterminer une cartographie de la température réelle à la surface dudit matériau anisotrope par mesure de la température du matériau au niveau des N points de mesure des N capteurs (22) ; déterminer au moyen dudit calculateur (400) la conductivité thermique réelle (lambda , lambda , lambda ) dudit matériau anisotrope mince, selon au moins deux directions, par une pluralité K d'ajustements de ladite conductivité thermique théorique minimisant la différence entre la température théorique et la température réelle pour chacun des N points de mesure de la température. |
