发明名称 非破坏性的内存在线测试方法
摘要 本发明公开了一种非破坏性的内存在线测试方法;包括以下步骤:确定对一个内存做一次完整检测所需要的时间上限;把内存检测分布到任务主程序每个周期运行的空闲时间去执行,每个周期会检测内存的一部分,这些周期累计检测完内存的时间不能超过上述规定的时间;把单个周期内内存检测的部分再细化颗粒度,分成多个时间片执行,保证对中断或生命信号的响应时间;备份所测的内存片,再对该内存片采用破坏性测试方法,然后恢复被校验的内存片。本发明的有益效果在于实现了对大容量内存的安全检测问题,解决了在高实时性安全系统中,处于内存检查情况下,对中断响应的延时问题;使用本身属于破坏性的方法应用于非破坏性的内存在线检测中,既提高了内存故障检测覆盖率又不破坏内存的关键静态数据。
申请公布号 CN103514071A 申请公布日期 2014.01.15
申请号 CN201310473227.3 申请日期 2013.10.11
申请人 上海富欣智能交通控制有限公司 发明人 袁跃峰;张小林;林先贤
分类号 G06F11/22(2006.01)I 主分类号 G06F11/22(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 孙大为
主权项 一种非破坏性的内存在线测试方法;其特征在于,包括以下步骤:确定对一个内存做一次完整检测所需要的时间上限; 把内存检测分布到任务主程序每个周期运行的空闲时间去执行,每个周期会检测内存的一部分,这些周期累计检测完内存的时间不能超过上述规定的时间; 把单个周期内内存检测的部分再细化颗粒度,分成多个时间片执行,保证对中断或生命信号的响应时间; 备份所测的内存片,再对该内存片采用破坏性测试方法,然后恢复被校验的内存片。 
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