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发明名称
微观几何形貌量测系统
摘要
一种微观几何形貌量测系统,用以量测试片的微观几何形貌。本创作之微观几何形貌量测系统包含第一扫描装置、第二扫描装置以及平坦基板。第一扫描装置的第一探针接触试片。第二扫描装置的第二探针接触平坦基板。第二扫描装置或平坦基板与第一扫描装置被同步致动,致使第一探针在试片上移动,第二探针在平坦基板上移动。试片的微观几何形貌系根据第一扫描装置之第一可枢转臂的第一位移以及第二扫描装置之第二可枢转臂的第二位移计算而得。
申请公布号
TWM470248
申请公布日期
2014.01.11
申请号
TW102214437
申请日期
2013.08.01
申请人
原力精密仪器股份有限公司
发明人
李嘉宜;洪绍刚
分类号
G01B7/28
主分类号
G01B7/28
代理机构
代理人
陶霖 台北市文山区景兴路202巷8号5楼
主权项
地址
台北市南港区园区街3之1号5楼之3 TW 5F-3, NO. 3-1, YUANGU ST., NANKANG, TAIPEI115, TAIWAN, R. O. C.
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