发明名称 藉由低粘度流体移除颗粒用之单基板处理头
摘要 兹揭露一种在基板上分配薄膜的分配头。该分配头包含主体组件,其延伸在至少为基板的宽度的第一及第二末端之间。主体包含主孔,其定义在第一及第二末端之间,主孔经由复数个馈入器而连接至储槽的上侧,该复数个馈入器系定义在主孔及储槽之间。主体亦包含复数个出口,其连接至储槽的下侧并延伸至出口槽。复数个馈入器具有大于复数个出口的横剖面积,且复数个馈入器之数目少于复数个出口。其中在流体均匀地由出口槽输出到基板上成为薄膜之前,流体用以流经主孔、沿该主孔经过复数个馈入器,而填充储槽高达至少阈值高度。
申请公布号 TWI423366 申请公布日期 2014.01.11
申请号 TW098122048 申请日期 2009.06.30
申请人 兰姆研究公司 美国 发明人 科洛丹可 阿诺德;林政宇;金兹伯 里欧;曼戴柏 马克;汤玛士 葛瑞格里A;哈辛 安渥尔
分类号 H01L21/67;B05C1/02;H01L21/30 主分类号 H01L21/67
代理机构 代理人 许峻荣 新竹市民族路37号10楼
主权项
地址 美国
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