发明名称 | 移除填充物的方法、移除凸块的方法以及解封装的方法 | ||
摘要 | 一种解封装的方法,包括:提供具有一晶片的一封装,其中晶片有一主动表面与一背面,且封装还包括:一散热块、数个凸块、一基板、一填充物与数个焊球。之后,移除散热块、基板与焊球。进行一乾式蚀刻制程以移除部份填充物。进行一湿式蚀刻制程以移除其余部份的填充物。进行一热制程以熔化凸块,之后进行一凸块移除制程使凸块由晶片之主动表面上分离。 | ||
申请公布号 | TW200818342 | 申请公布日期 | 2008.04.16 |
申请号 | TW095137081 | 申请日期 | 2006.10.05 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 石东益 |
分类号 | H01L21/50(2006.01) | 主分类号 | H01L21/50(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |