发明名称 符合边界扫描标准的扫描子链型测试结构及测试方法
摘要 本发明公开了一种符合边界扫描标准的扫描子链型测试结构,包括矢量配置模块、响应聚合模块,矢量配置模块将测试信号重新配置成多条并行的边界扫描子链与响应聚合模块连接,矢量配置模块的各条数据输出端与各边界扫描子链的数据输入端连接,各边界扫描子链的数据输出端与响应聚合模块的数据输入端连接,响应聚合模块的输出端输出的测试响应与边界扫描测试控制器的TDI端口连接。本发明同时公布了符合边界扫描标准的扫描子链型测试方法,以及扫描子链型测试结构及测试方法在诊断被测电路板故障中的应用。本发明既能满足标准又能满足扫描子链测试结构的需要,减少了边界扫描测试移位过程中的位通过率,进而降低了边界扫描测试的功耗。
申请公布号 CN103487747A 申请公布日期 2014.01.01
申请号 CN201310462371.7 申请日期 2013.09.30
申请人 桂林电子科技大学 发明人 谈恩民;高俊强
分类号 G01R31/3185(2006.01)I 主分类号 G01R31/3185(2006.01)I
代理机构 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 代理人 巢雄辉
主权项 一种符合边界扫描标准的扫描子链型测试结构,其特征在于:包括矢量配置模块、响应聚合模块,矢量配置模块将测试信号重新配置成多条并行的边界扫描子链与响应聚合模块连接,矢量配置模块的各条数据输出端与各边界扫描子链的数据输入端连接,各边界扫描子链的数据输出端与响应聚合模块的数据输入端连接,响应聚合模块的输出端输出的测试响应与边界扫描测试控制器的TDI端口连接;矢量配置模块接收边界扫描测试控制器发送的测试指令和测试矢量,并将所接收的测试信号根据子链配置方法重新配置成多条边界扫描子链并行输送至各扫描子链的TDI端;响应聚合模块并行接收各边界扫描子链的测试响应,并根据子链配置方法将测试响应重新聚合,串行输出至边界扫描测试控制器。
地址 541004 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号