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<p>본 발명에 따른 OCT 프로브 광궤적 스캔 방법은, 프로브에서 출사되는 광궤적의 설정된 원의 데이터를 입력받는 단계와; 상기 설정된 광궤적의 원의 데이터 값에 대응하여 광궤적에서 한 축을 기준으로 직교하는 타축의 양방향으로 진폭을 증가시키면서 스캔을 수행하는 단계와; 상기 설정된 원의 데이터와 상기 스캔 수행된 광궤적의 원의 데이터를 비교하고, 상기 설정된 원의 데이터와 일치하는 여부를 판단하는 단계를 포함하는 점에 그 특징이 있다. 본 발명에 따르면, OCT의 프로브에서 원형 궤적의 스캔을 수행할 때, 한 축을 중심으로 직교하는 타축의 양방향으로 진폭을 점진적으로 증가시키면서 선회하는 궤적을 형성함으로써 고속 스캔을 수행하면서 스캔 면적을 확보할 수 있다.</p> |
