发明名称 一种折线对比分析相似度的方法
摘要 本发明涉及一种折线对比分析相似程度的方法,通过量化指标指出偏离、耦合程度,多组折线的相似程度可以通过上述指标比较。本发明的核心思想为:通过对折线X轴进行分段汇总得到的汇总折线,进行直接偏离、方差偏离的累计,并通过与直接偏离、方差偏离的基准值的比较,获得百分比制的量化指标,从而为折线之间的相似程度提供量化指标说明。
申请公布号 CN103473458A 申请公布日期 2013.12.25
申请号 CN201310420053.4 申请日期 2013.09.13
申请人 杭州安恒信息技术有限公司 发明人 王锦龙;范渊;杨永清
分类号 G06F19/00(2011.01)I 主分类号 G06F19/00(2011.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种折线对比分析相似度的方法,它包括初始A坐标存储模块、初始B坐标存储模块、合并坐标模块、计算模块,其特征在于,它包括如下步骤:1)、在初始A坐标存储模块储存有折线LineA坐标,在初始B坐标存储模块储存有折线LineB的坐标,AXmin、 BXmin分别为LineA的X轴区间与LineB的X轴区间的最小值,AXmax、BXma x分别为LineA的X轴区间与LineB的X轴区间的最大值,将LineA的X轴区间与LineB的X轴区间均输入合并坐标模块,获得X轴合并区间[Xmin,Xmax],其中Xmin为AXmin, BXmin中的最小值,其中Xmax为AXmax,BXmax中的最大值;2)、将LineA在合并区间上没有采样点的时间段上,为LineA生成新的采样点,将LineB在合并区间上没有采样点的时间段(X轴单位)上,为LineB生成新的采样点;3)、在计算模块内设有两个区位用于保存偏离度,分别为直接偏离累计值区位AmpAcc、方差偏离累计值区位SqrAcc、并将AmpAcc和SqrAcc初始化为0,计算模块内还设有两个区位用于保存偏离基数,分别为直接偏离累计值基准区位AmpAccBase、方差偏离累计值基准区位SqrAccBase,将AmpAccBase和SqrAccBase也初始化为0;4)、对合并区间[Xmin,Xmax]设于分段长度SegLen,SegLen的长度为1个X轴时间段的倍数, 将LineA,LineB的所有采样点,按照SegLen进行汇总分段,若N为自然数,则第N个分段SegN对应X轴合并缺件的X轴时间段为[N, N+SegLen]区间,包含从时间段编号1到N+SegLen的所有时间段,SegN的Y轴取值为相应时间段的采样点的Y轴取值的累加和,最终得到两条新的汇总折线LineSA,LineSB;5)、按照分段,从第一个分段Seg1到最后一个分段,进行遍历:(1)对于当前分段SegC,将LineSA与LineSB在当前分段的Y轴取值进行相减然后取绝对值获得直接偏离AmpC,对AmpC进行乘方获得方差偏离AmpS;(2)将AmpC加到AmpAcc上,实现AmpAcc对于所有分段的直接偏离的累计;(3)将AmpS加到SqrAcc上,实现AmpSqr对于所有分段的方差偏离的累计;(4)将LineSA的当前取值的绝对值累加到AmpAccBase上,将LineSA的当前取值的绝对值的乘方累加到SqrAccBase上,获得两个偏离指标基准;遍历结束后得到的AmpAcc代表了所有分段的直接偏离量的累计,而SqrAcc代表了所有分段的偏离乘方的累计;6)、获得两个偏离度指标:直接偏离百分比(AmpPer):AmpPer = AmpAcc / AmpAccBase * 100%;方差偏离百分比(SqrPer):SqrPer = SqrAcc / SqrAccBase * 100%;7)、获得两个耦合度指标:直接耦合百分比(AmpFitPer):AmpFitPer = 100% ‑ AmpPer;方差耦合百分比(SqrFitPer):SqrFitPer = 100% ‑ SqrPer。
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