发明名称 |
一种X-荧光光谱分析用超载膜 |
摘要 |
本实用新型涉及X-荧光光谱分析领域,具体提供一种X-荧光光谱分析用超载膜。其结构包括聚脂膜片及富集膜,富集膜设置在聚脂膜片顶面,其特点是,所述富集膜包括承载区富集膜及缓冲区富集膜,承载区富集膜设置在聚脂膜片中心位置,缓冲区富集膜环绕设置在承载区富集膜的外侧,在承载区富集膜与缓冲区富集膜之间设置有隔离疏水膜。与现有技术相比,本实用新型的X-荧光光谱分析用超载膜具有设计合理,能够大幅度增加微量元素富集量等特点,可应用于各种液体样品的X-荧光光谱分析过程中。 |
申请公布号 |
CN203365213U |
申请公布日期 |
2013.12.25 |
申请号 |
CN201320406311.9 |
申请日期 |
2013.07.09 |
申请人 |
回寒星;王卿 |
发明人 |
回寒星;王卿 |
分类号 |
G01N1/40(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N1/40(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种X‑荧光光谱分析用超载膜,包括聚脂膜片及富集膜,富集膜设置在聚脂膜片顶面,其特征在于,所述富集膜包括承载区富集膜及缓冲区富集膜,承载区富集膜设置在聚脂膜片中心位置,缓冲区富集膜环绕设置在承载区富集膜的外侧,在承载区富集膜与缓冲区富集膜之间设置有隔离疏水膜。 |
地址 |
250013 山东省济南市历下区历山路52号山东省地质科学实验研究院 |