OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板及测试方法

摘要

本发明的OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板，主要包括掩模板本体和贴布，所述掩模板本体外形与基板一致，并在与基板测试区域对应的位置设置有测试窗，掩模板本体用于在测试时保护非测试窗对应的基板区域；所述贴布在测试时与掩模板本体贴合并遮挡部分测试窗，用于保护被遮挡的测试窗对应的基板区域。测试方法包括步骤：a.根据被测试基板制作上述掩模板本体，并开设测试窗；b.根据测试需求制作所述贴布；c.将掩模板本体贴合到被测试基板上等。通过掩模板不同的遮挡方法，实现了在同一张基板上同时进行多种材料或多种器件结构测试的目的，从而解决行业内通常一张基板只能同时测试一种材料或一种器件结构的问题，提高了实验效率。

主权项

OLED材料和/或器件结构测试专用掩模板，其特征在于，包括：掩模板本体和贴布，所述掩模板本体外形与基板一致，并在与基板测试区域（cell）对应的位置设置有测试窗，掩模板本体用于在测试时保护非测试窗对应的基板区域；所述贴布在测试时与掩模板本体贴合并遮挡部分测试窗，用于保护被遮挡的测试窗对应的基板区域。