发明名称 | 半导体器件的封装结构 | ||
摘要 | 本发明公开了一种半导体器件的封装结构,其中,该封装结构包括:封装基板,封装基板具有基板键合区;多个管芯,多个管芯中的至少两个管芯以层叠的方式设置,并且多个管芯装载于封装基板上,每个管芯具有管芯键合区,其中,一个管芯的管芯键合区可以与另一个管芯的管芯键合区进行电连接,或者与所述封装基板的基板键合区进行电连接。本发明通过将多个管芯以层叠的方式装载到封装基板上,避免了将管芯以平面布局方式排列而占用基板大量面积的情况,从而在保证半导体器件工作性能正常的基础上,有效地缩小了整体封装尺寸,满足了半导体器件的日益小型化的需求。 | ||
申请公布号 | CN103456724A | 申请公布日期 | 2013.12.18 |
申请号 | CN201310336739.5 | 申请日期 | 2013.08.05 |
申请人 | 天津大学 | 发明人 | 张浩;庞慰;逯遥;张代化 |
分类号 | H01L25/00(2006.01)I | 主分类号 | H01L25/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人 | 章社杲;孙征 |
主权项 | 一种半导体器件的封装结构,其特征在于,包括:封装基板,所述封装基板具有基板键合区;多个管芯,所述多个管芯中的至少两个管芯以层叠方式装载于所述封装基板上,每个管芯具有管芯键合区。其中,一个管芯的管芯键合区可以与另一个管芯的管芯键合区进行电连接,或者与所述封装基板的基板键合区进行电连接。 | ||
地址 | 300072 天津市南开区卫津路92号 |