电子设备硬件性能的测试方法及装置

摘要

本发明实施例公开了一种电子设备硬件性能的测试方法及装置。该方法包括：获得开始测试指令；响应开始测试指令，分别对待测试的硬件项目进行测试，测试过程包括：首先执行虚拟机性能的测试，获得第一执行结果，依据第一执行结果，确定虚拟机性能的第一测试结果；然后同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果；或，执行RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；依据第二执行结果，确定RAM性能的第二测试结果，依据第三执行结果，确定CPU整数运算性能的第三测试结果。可见，通过合理的硬件项目测试顺序，提高了电子设备硬件性能的测试准确性。

主权项

一种电子设备硬件性能的测试方法，其特征在于，包括：获得开始测试指令；响应所述开始测试指令，分别对待测试的硬件项目进行测试，所述待测试的硬件项目至少包括：虚拟机性能、RAM性能、CPU整数运算性能；其中，所述分别对待测试的硬件项目进行测试包括：首先执行所述虚拟机性能的测试，获得第一执行结果，并依据所述第一执行结果，确定所述虚拟机性能对应的第一测试结果；在获得所述第一执行结果后，同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，或，执行所述RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行所述CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果，依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。