具有自包含式测试单元的半导体存储器件及其测试方法

摘要

本发明提供了一种半导体存储器件，其被配置成利用随机数据模式在内部执行测试操作。半导体存储器件包括在板上控制逻辑的控制下操作的随机数据模式测试单元，所述板上控制逻辑也管理半导体存储器件的正常操作。控制逻辑响应于从外部器件接收的简单命令来控制半导体存储器件的测试操作。因此，测试时间会比在由外部器件完全控制测试时的测试时间少。而且，因为外部器件不需要管理随机数据模式，测试成本会比在外部器件控制下执行测试时的测试成本低。

主权项

一种半导体存储器件的测试方法，包括以下步骤：在所述半导体存储器件内部产生第一随机数据模式，并且将所述第一随机数据模式编程在所述半导体存储器件中；以及在所述半导体存储器件内部产生第二随机数据模式，并且比较所述第二随机数据模式和从所述半导体存储器件的存储器单元读取的数据模式。