发明名称 |
与锗硅异质结NPN三极管集成的PNP三极管工艺实现方法 |
摘要 |
本发明公开了一种与锗硅异质结NPN三极管集成的PNP三极管工艺实现方法,包括步骤:在PNP区域的N型基区的掺杂注入完成后,采用刻蚀工艺对PNP区域的基区的硅表面进行处理,使PNP区域的基区的硅表面的晶格结构被破坏;在NPN区域的N型集电区形成后,在NPN区域和PNP区域同时采用外延生长工艺形成锗硅层。本发明方法通过对PNP区域的基区的硅表面进行刻蚀处理,能使PNP区域的基区的硅表面变成非晶结构,能使后续在PNP区域形成的锗硅层为非晶结构,有利于在对PNP三极管发射区注入离子的扩散,从而能提高PNP三极管的发射区的掺杂浓度,提高器件的发射效率以及器件的放大系统,并能增加器件的截止频率。 |
申请公布号 |
CN102412200B |
申请公布日期 |
2013.12.18 |
申请号 |
CN201110317240.0 |
申请日期 |
2011.10.18 |
申请人 |
上海华虹NEC电子有限公司 |
发明人 |
陈帆;陈雄斌;薛凯;周克然;潘嘉;李浩 |
分类号 |
H01L21/8228(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/8228(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
丁纪铁 |
主权项 |
一种与锗硅异质结NPN三极管集成的PNP三极管工艺实现方法,其特征在于,包括如下步骤:硅衬底分为形成NPN三极管的NPN区域和形成PNP三极管的PNP区域,在所述PNP区域的N型基区的掺杂注入完成后,采用刻蚀工艺对所述PNP区域的所述基区的硅表面进行处理,使所述PNP区域的所述基区的硅表面的晶格结构被破坏;在所述NPN区域的N型集电区形成后,在所述NPN区域和所述PNP区域同时采用外延生长工艺形成锗硅层;所述锗硅层在所述PNP区域为多晶结构,多晶硅结构的所述锗硅层用于形成所述PNP三极管的发射区;所述锗硅层在所述NPN区域为单晶结构,单晶结构的所述锗硅层用于形成所述NPN三极管的基区;形成浅槽场氧的隔离工艺,形成所述浅槽场氧需要先采用刻蚀工艺在P型硅衬底上形成有源区和浅沟槽;再在所述浅沟槽中填入氧化硅形成;在所述PNP区域中还包括形成N型深阱的工艺;以及形成所述N型深阱的引出结构的步骤,包括在所述浅沟槽底部形成N型埋层的步骤,所述N型埋层是在所述浅沟槽形成后填入氧化硅前通过N型离子注入形成的;以及在所述N型埋层上的浅槽场氧中形成深孔、并在所述深孔中填入金属形成深孔接触的步骤;在所述PNP区域中还包括形成所述PNP三极管的集电区的步骤,所述集电区是在所述浅槽场氧形成后,进行P型离子注入形成的;以及形成P型埋层的步骤,所述P型埋层是在所述浅沟槽形成后填入氧化硅前进行P 型离子注入形成的,以及在所述P型埋层上的浅槽场氧中形成深孔的步骤,以及在所述深孔中填入金属形成深孔接触的步骤;对所述PNP区域的所述基区的硅表面进行刻蚀处理时,采用所述PNP区域的N型基区的掺杂注入时的光刻胶图形来选定刻蚀区域;所述刻蚀处理完毕后,再去除所述光刻胶图形。 |
地址 |
201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |