| 发明名称 | 用于生成识别密钥的装置及方法 | ||
| 摘要 | 提供一种识别密钥生成装置，在半导体制备工程中违反所提供的设计规定，概率性地确定构成电路的节点之间是否短路，从而来生成识别密钥。所述识别密钥生成装置可包括：识别密钥生成单元，其通过确定半导体芯片内的导电层之间(between conductive layers)电连接的接点(contact)或通路(via)是否使所述导电层短路，来生成识别密钥；和识别密钥读取单元，其通过读取所述导电层是否由于所述通路被短路，从而来读取识别密钥。 | ||
| 申请公布号 | CN103443801A | 申请公布日期 | 2013.12.11 |
| 申请号 | CN201180066876.0 | 申请日期 | 2011.01.28 |
| 申请人 | ICTK有限公司 | 发明人 | 金东奎;崔秉德;金兑郁 |
| 分类号 | G06F21/60(2013.01)I;H04L9/14(2006.01)I | 主分类号 | G06F21/60(2013.01)I |
| 代理机构 | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人 | 张全文 |
| 主权项 | 一种识别密钥生成装置，包括：识别密钥生成单元，在半导体制备工程中违反所提供的设计规定，概率性地确定构成电路的节点之间是否短路，来生成识别密钥；和识别密钥读取单元，读取所述构成电路的节点之间是否短路，从而来读取识别密钥。 | ||
| 地址 | 韩国首尔 | ||