发明名称 PROCEDE ET SYSTEME D'OBTENTION D'UNE TRANCHE SEMI-CONDUCTRICE
摘要 <p>L'invention porte sur un procédé d'obtention d'une tranche en matériau semi-conducteur à partir d'un substrat donneur en un premier matériau semi-conducteur et comprenant dans son épaisseur une zone de fragilisation, caractérisé en ce qu'il comprend : le dépôt (320) d'un deuxième matériau semi-conducteur à l'état liquide simultanément sur une pluralité de zones (310) d'une face (101) du substrat donneur; l'étalement du deuxième matériau semi-conducteur à l'état liquide jusqu'à former une couche sur ladite face (101) du substrat donneur; la solidification au moins partielle de la couche du deuxième matériau semi-conducteur déposé pour épaissir le substrat donneur; la séparation du substrat donneur au niveau de la zone de fragilisation. L'invention porte également sur un procédé de réalisation d'un panneau photovoltaïque et sur un système permettant de mettre en oeuvre le procédé d'obtention du substrat.</p>
申请公布号 FR2991498(A1) 申请公布日期 2013.12.06
申请号 FR20120055015 申请日期 2012.05.31
申请人 COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIESALTERNATIVES 发明人 PENOT JEAN-DANIEL;DREVET BEATRICE;GARANDET JEAN-PAUL;MORICEAU HUBERT
分类号 H01L21/203;H01L21/762;H01L31/042 主分类号 H01L21/203
代理机构 代理人
主权项
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