发明名称 Verfahren zur Kompensation von faseroptischen Messsystemen und faseroptisches Messsystem
摘要 <p>Die vorliegende Erfindung stellt ein Verfahren zur Kompensation z.B. zur Temperaturkompensation eines zu Erfassung einer mechanischen Größe ausgelegten faseroptischen Messsystems bereit. Erste und zweite Faser-Bragg-Gitter weisen jeweils eine Bragg-Wellenlänge auf, wobei die Faser-Bragg-Gitter mit Primärlicht bestrahlt werden. Nach einem Beaufschlagen der ersten und zweiten Faser-Bragg-Gitter mit der mechanischen Größe werden die Bragg-Wellenlängen der Faser-Bragg-Gitter durch die mechanische Größe verändert. Ein Filtern von durch das Primärlicht hervorgerufenem und durch die Bragg-Wellenlänge der Faser-Bragg-Gitter in Abhängigkeit von der mechanischen Größe modifiziertem ersten und zweiten Sekundärlicht mittels einer optischen Filtereinrichtung erfolgt derart, dass die Bragg-Wellenlänge der ersten Faser-Bragg-Gitter im Bereich der ansteigenden Filterflanke und die Bragg-Wellenlänge des zweiten Faser-Bragg-Gitters im Bereich der abfallenden Filterflanke der optischen Filtereinrichtung liegt. Nach einem Erfassen der Intensitäten des gefilterten ersten und zweiten Sekundärlichts werden diese verglichen, woraufhin die mechanische Größe aus dem Intensitätsvergleich bestimmbar wird.</p>
申请公布号 DE102012104877(A1) 申请公布日期 2013.12.05
申请号 DE201210104877 申请日期 2012.06.05
申请人 TECHNISCHE UNIVERSITAET MUENCHEN 发明人 BUCK, THORBJOERN;HOFFMANN, LARS;MUELLER, MATHIAS;WOJTECH, ROLF
分类号 G01B11/16;G01D5/353 主分类号 G01B11/16
代理机构 代理人
主权项
地址