发明名称 |
一种纹理描述方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于局部模式编码策略和全局分形分析的纹理描述方法,包括以下步骤:S1、首先对图像进行一些简单的前处理,如转换成灰度图像,进入步骤S2;S2、对输入图像应用多尺度的局部模式编码技术,得到在不同尺度参数下的LBP编码图,进入步骤S3;S3、对不同尺度参数下的LBP编码图分别进行多分形谱分析,得到各自的多分形谱特征,进入步骤S4;S4、将对应不同尺度下的LBP编码图得到的特征拼接起来得到最后的纹理特征描述子;本发明具有区分能力强、紧凑性、鲁棒性、计算效益高等优点。 |
申请公布号 |
CN103426188A |
申请公布日期 |
2013.12.04 |
申请号 |
CN201310345141.2 |
申请日期 |
2013.08.08 |
申请人 |
华南理工大学 |
发明人 |
许勇;全宇晖;孙宇平 |
分类号 |
G06T7/40(2006.01)I;G06T9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06T7/40(2006.01)I |
代理机构 |
广州市华学知识产权代理有限公司 44245 |
代理人 |
蔡茂略 |
主权项 |
一种纹理描述方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、对图像进行前处理;S2、对输入图像应用多尺度的局部模式编码技术,得到在不同尺度参数下的LBP编码图;S3、对不同尺度参数下的LBP编码图分别进行多分形谱分析,得到各自的多分形谱特征;S4、将对应不同尺度下的LBP编码图得到的特征拼接起来得到最后的纹理特征描述子。 |
地址 |
510641 广东省广州市天河区五山路381号 |