发明名称 |
一种超短电子脉冲脉宽测量装置及方法 |
摘要 |
本发明属于超快诊断领域,尤其涉及一种超短电子脉冲脉宽测量装置及方法。包括俄歇靶材、待测电子脉冲、载波包络相位锁定的疏周期超强近红外飞秒脉冲源及电子能谱探测分析系统;近红外飞秒脉冲源所发出的脉冲与待测电子脉冲入射在俄歇靶上的同一空间点;待测电子脉冲通过俄歇靶材电离出俄歇电子脉冲;电子能谱探测分析系统可接收电离出的俄歇电子脉冲,通过俄歇电子的二维电子能谱图即可重建出俄歇电子脉冲的时域轮廓;将此时域轮廓分布与俄歇靶材的俄歇过程进行反卷积运算,即得出待测电子脉冲的时域轮廓,进而得出待测电子脉冲脉宽。本发明提供了一种可以测量脉宽的超短电子脉冲脉宽测量装置及方法。 |
申请公布号 |
CN103424633A |
申请公布日期 |
2013.12.04 |
申请号 |
CN201310390300.0 |
申请日期 |
2013.08.30 |
申请人 |
中国科学院西安光学精密机械研究所 |
发明人 |
王超;田进寿;赵卫;白永林 |
分类号 |
G01R29/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R29/02(2006.01)I |
代理机构 |
西安智邦专利商标代理有限公司 61211 |
代理人 |
杨引雪 |
主权项 |
一种超短电子脉冲脉宽测量装置,其特征在于:包括俄歇靶材、待测电子脉冲、载波包络相位锁定的疏周期超强近红外飞秒脉冲及电子能谱探测分析系统;所述载波包络相位锁定的疏周期超强近红外飞秒脉冲源所发出的脉冲与待测电子脉冲入射在俄歇靶上的同一空间点;所述待测电子脉冲通过碰撞电离过程从俄歇靶材电离出俄歇电子脉冲;所述电子能谱探测分析系统可接收电离出的俄歇电子脉冲。 |
地址 |
710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 |