一种解决PCB板阻抗测试数据统计分析的方法

摘要

本发明公开了一种解决PCB板阻抗测试数据统计分析的方法，通过采集PCB板阻抗测试数据，对阻抗测试数据进行等区间统计个数，设定目标值和容差参数，对本批次PCB板阻抗的离散度和偏离度等进行量化分析,得出品质管理学的相关参数——制程精密度Cp（CapabilityIndiesofProcess）、制程准确度Ca、制程能力指数Cpk，对照CPK指数等级的划分表，对本批次PCB板阻抗方面的制程好坏进行判断，并找到问题所在，以便后续进行改进。

主权项

一种解决PCB板阻抗测试数据统计分析的方法，其特征是：通过采集PCB板阻抗测试数据，对阻抗测试数据进行等区间统计个数，设定目标值和容差参数，对PCB板阻抗的离散度和偏离度进行量化分析,得出品质管理学的相关参数——制程精密度Cp、制程准确度Ca、制程能力指数Cpk，对照CPK指数等级的划分表，对本批次PCB板阻抗方面的制程好坏进行判断。