| 发明名称 | 一种准光相位修正面设计方法 | ||
| 摘要 | 一种准光相位修正面设计方法，包括对准光相位修正面的X向微扰<img file="564130DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="24" he="17" />的设计方法，其特征在于，所述微扰<img file="835973DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="108" he="48" />，其中<img file="23372DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="27" he="24" />为反向高斯波束电场Y向分量在相位修正面处的相位，<img file="195596DEST_PATH_IMAGE008.GIF" wi="29" he="24" />为前向波束电场Y向分量在相位修正面处的相位；<img file="505355DEST_PATH_IMAGE010.GIF" wi="17" he="24" />为波数，α为前向波束入射角；上述<img file="DEST_PATH_IMAGE011.GIF" wi="29" he="24" />为通过矢量绕射理论计算出的前向波束电场Y向分量相位，<img file="199248DEST_PATH_IMAGE012.GIF" wi="27" he="24" />是高斯波束的函数，即<img file="190338DEST_PATH_IMAGE012.GIF" wi="27" he="24" />=<img file="DEST_PATH_IMAGE014.GIF" wi="54" he="24" />，U为高斯波束。采用本发明所述的准光相位修正面设计方法，即采用矢量绕射理论设计相位反射面，不同于标量绕射理论的方法，比标量绕射理论设计的相位反射面更加准确。 | ||
| 申请公布号 | CN103412983A | 申请公布日期 | 2013.11.27 |
| 申请号 | CN201310307874.7 | 申请日期 | 2013.07.22 |
| 申请人 | 电子科技大学 | 发明人 | 赵青;刘建卫 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
| 代理机构 | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人 | 梁田 |
| 主权项 | 1.一种准光相位修正面设计方法，包括对准光相位修正面的X向微扰<img file="10935DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="24" he="17" />的设计方法，其特征在于，所述微扰<img file="670455DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="108" he="48" />，其中<img file="721588DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="27" he="24" />为反向高斯波束电场Y向分量在相位修正面处的相位，<img file="332304DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="29" he="24" />为前向波束电场Y向分量在相位修正面处的相位；<img file="494295DEST_PATH_IMAGE005.GIF" wi="17" he="24" />为波数，α为前向波束入射角；如权利要求1所述一种准光相位修正面设计方法，其特征在于，<img file="742743DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="29" he="23" />=<img file="964777DEST_PATH_IMAGE007.GIF" wi="56" he="23" />，其中对反向波束U的选取采用矢量分解方法，将U视为三维直角坐标系内的矢量，对U的取值只取U在Y向的分量。 | ||
| 地址 | 610000 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号 | ||