发明名称 半导体装置用配线构件、半导体装置用复合配线构件、及树脂密封型半导体装置
摘要 提供可以确实安装小型化半导体晶片之同时,可降低制造成本的半导体装置用配线构件、半导体装置用复合配线构件、及树脂密封型半导体装置。;半导体装置用配线构件(10),系用于电连接于半导体晶片(15)之电极(15A)与外部配线构件(21)者。该半导体装置用配线构件(10)具备:绝缘层(11);配置于绝缘层(11)之一侧的金属基板(12);及配置于绝缘层(11)之另一侧的铜配线层(13)。又,于绝缘层(11)之于铜配线层(13)侧形成半导体晶片载置部(11A)。铜配线层(13),系包含:第1端子部(13D),被连接于半导体晶片(15)上之电极(15A);第2端子部(13E),被连接于外部配线构件(21);及配线部(13C),用于连接第1端子部(13D)与第2端子部(13E)。
申请公布号 TWI416688 申请公布日期 2013.11.21
申请号 TW098123933 申请日期 2009.07.15
申请人 大日本印刷股份有限公司 日本 发明人 马场进;增田正亲;铃木博通
分类号 H01L23/52;H05K3/30 主分类号 H01L23/52
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本