| 发明名称 | 用于检测仪器设备状态的电子标签及电子标签检测系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及电子标签，尤其涉及一种用于检测仪器设备状态的电子标签。本实用新型提供了一种用于检测仪器设备状态的电子标签，包括基础电源、处理器、电流采样模块、射频芯片和PCB天线，其中，所述处理器、电流采样模块、射频芯片的输入端分别与所述基础电源连接，所述处理器分别与所述电流采样模块、射频芯片连接，所述PCB天线与所述射频芯片连接。本实用新型的有益效果是：可通过电流采样模块采集后端设备所消耗电流，并将数据经处理器发送到射频芯片，可检测仪器设备状态。 | ||
| 申请公布号 | CN203299867U | 申请公布日期 | 2013.11.20 |
| 申请号 | CN201320234780.7 | 申请日期 | 2013.05.03 |
| 申请人 | 深圳市航天华拓科技有限公司 | 发明人 | 王辉;于波;张旋;刘瑞涛;刘志斌;张天卫;彭义祥;胡庆伟;张解中;袁雪峰;谭燕芳 |
| 分类号 | G06K19/077(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I | 主分类号 | G06K19/077(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人 | 王雨时;熊伟 |
| 主权项 | 一种用于检测仪器设备状态的电子标签，其特征在于：包括基础电源、处理器、电流采样模块、射频芯片和PCB天线，其中，所述处理器、电流采样模块、射频芯片的输入端分别与所述基础电源连接，所述处理器分别与所述电流采样模块、射频芯片连接，所述PCB天线与所述射频芯片连接。 | ||
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区高新南十路深圳航天科技创新研究院B803 | ||